Hinds Instruments 的Exicor 应力双折射检测系统PV-Si是Exicor双折射测量系统系列产品的工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光器和Ge雪崩光电二极管探测器，实现了光伏和半导体工业中硅材料的高精度双折射测量，除硅外，还可测量蓝宝石、碳化硅、硒锌、镉等材料。PV-Si铸锭模型坚固、通用，可容纳和测量直径达8英寸的500毫米粗锭。台面设计和直观的自动扫描软件使该产品成为原材料改进、研发和日常评估的选择，也是对原始硅锭和其他高技术材料进行评估的选择。
应力双折射检测
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